SilVIR 검출기 기술

실리콘 광전자 증배관

검출기의 실리콘 광전자 증배관은 다중 픽셀 가이거 모드(Geiger-ode) APD(Avalanche Photodiode)로 구성됩니다. 무작위 입사 광자를 동시에 검출할 수 있으므로 광범위한 파장과 동적 범위에 대한 광자 검출 효율을 높일 수 있습니다. 또한 정량적 데이터도 제공하는데, 출력 펄스의 높이는 검출된 광자 수를 정확하게 보여줍니다.

특허받은* 고속 신호 처리

Evident의 디지털 신호 처리는 고속 아날로그/디지털(A/D) 컨버터 내에 FPGA(Field Programmable Gate Array) 반도체를 갖춘 집적 회로 설계를 활용합니다.

또한 SiPM 감쇠 곡선을 단축하고 각 출력 펄스의 높이를 기준으로 광자 수를 정확하게 검출하는 동시에 광자 1개 미만에 해당하는 매우 낮은 노이즈를 실현합니다.

*특허번호 US11237047

강력한 기능과 성능의 조합

Evident 기술 조합은 최대 2,000광자/2μs의 선형 및 높은 동적 범위 감지를 제공합니다.

이 검출기의 광자 검출 효율은 모든 파장에서 고감도 컨포컬 이미징에 사용했었던 GaAsP PMT 검출기보다 높습니다. 따라서 SilVIR 검출기는 우수한 신호 대 잡음(S/N) 비율을 제공하여 약한 형광 신호를 생생하게 표현할 수 있습니다.

그리고 SilVIR 검출기는 반도체 기술을 기반으로 하므로, 감도가 저하되지 않고 다양한 검출기 간의 개별 차이가 매우 작기 때문에 시간과 사용자에 관계없이 안정적이고 일관된 결과를 보장할 수 있습니다.

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혁신적인 정량화

SilVIR 검출기 기술을 사용하면 이미지 강도를 정확하게 정량화하여 더욱 신뢰할 수 있는 데이터를 얻을 수 있습니다. 이미징 데이터는 광자 수로 출력되어 각 이미지에 대한 형광 강도의 절댓값을 제공합니다. 광범위한 동적 범위는 높은 강도 수준에서도 광자 수에 따른 형광 강도를 정확하게 정량화합니다.

직관적인 사용자 인터페이스 및 워크플로

지금까지 컨포컬 이미징에 사용되었던 photomultiplier tubes는 샘플의 밝기 수준에 따른 전압 조정과 신호 노이즈를 줄이기 위한 오프셋 조정이 필요합니다. 고품질의 컨포컬 이미지를 얻으려면 적절한 조정을 수행하기 위한 전문 지식과 경험이 필요합니다.

SilVIR 검출기의 전압은 공장에서 감도와 낮은 노이즈에 최적화되므로 전압과 오프셋을 조정할 필요가 없으며, 특정 광자 수를 달성하기 위해 레이저 출력만 조정하면 됩니다. 신호 대 잡음(S/N) 비율은 광자 수에 비례하므로 광자 수를 일정하게 유지하면 일관된 이미지 품질을 유지할 수 있습니다.

검출기 설정