IXplore IX85 Spin
Caractéristiques techniques
IX85-Spin | ||
|---|---|---|
| Lignes laser | 405 nm 50 mW, 445 nm 75 mW, 488 nm 100 mW, 514 nm 40 mW, 561 nm 100 mW, 640 nm 100 mW | |
| Combinateur de lasers |
Combinateur principal : 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm + 1 ligne (445 nm ou 514 nm)
Sous-combinateur : 445 nm, 514 nm 2 obturateurs de verrouillage disponibles | |
| Contrôle de l’éclairage laser | Modulation directe, contrôle ON/OFF et modulation de l’intensité avec des lignes laser individuelles | |
| Scanner | Yokogawa CSU-W1 | Disque sténopé unique de 50 μm, modèle à 1 ou 2 caméra(s) |
| Vitesse d’acquisition (max.) | 5 ms/f | |
| Zoom optique | 1x | |
| Indice de champ | 22 | |
| Miroir dichromatique | 3 positions (insert coulissant motorisé) | |
| Roue porte-filtres (émission) | 10 positions (roue motorisée) | |
| Capteur d’imagerie | Caméras à capteur sCMOS tiers | |
| Microscope | IX85P1ZF | |
| Logiciel d’imagerie | cellSens Dimension ; acquisition et analyse multidimensionnelles | |
| Environnement opérationnel |
• Usage en intérieur
• Température ambiante : 5 ºC à 40 ºC • Humidité relative maximale : 80 % pour une température max. de 31 ºC, diminuant de manière linéaire jusqu’à 70 % à 34 ºC, jusqu’à 60 % à 37 ºC, et jusqu’à 50 % à 40 ºC • Fluctuations de la tension d’alimentation : Ne pas dépasser ± 10 % de la tension normale | |
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