IXplore IX85 Spin
Especificaciones
IX85-Spin | ||
|---|---|---|
| Líneas láser | 405 nm 50mW, 445 nm 75mW, 488 nm 100mW, 514 nm 40mW, 561 nm 100mW, 640 nm 100mW | |
| Combinador láser |
Combinador principal: 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm + 1 línea (445 nm o 514 nm)
Subcombinador: 445 nm, 514 nm 2 obturadores de bloqueo disponibles | |
| Control de luz láser | Modulación directa, control ON/OFF y modulación de la intensidad con líneas láser individuales | |
| Escáner | Yokogawa CSU-W1 | Disco estenopeico de 50 μm único, 1 o 2 modelos de cámara |
| Velocidad de adquisición (máx.) | 5 ms/f | |
| Zoom óptico | 1x | |
| Número de campo | 22 | |
| Espejo dicromático | 3 posiciones (deslizador motorizado) | |
| Rueda de filtro (emisión) | 10 posiciones (rueda motorizada) | |
| Sensor de imagen | Cámaras sCMOS de terceros | |
| Microscopio | IX85P1ZF | |
| Software de procesamiento de imágenes | cellSens Dimension; Adquisición y análisis multidimensionales | |
| Entorno de funcionamiento |
• Uso en interiores
• Temperatura ambiente: 5 ºC a 40 ºC (41 ºC a 104 ºF) • Humedad relativa máxima: 80 % para temperaturas de hasta 31 ºC (88 ºF), disminuyendo de forma lineal hasta 70 % a 34 ºC (93 ºF), 60 % a 37 ºC (99 ºF), y hasta 50 % de humedad relativa a 40 ºC (104 ºF) • Fluctuaciones de la tensión de alimentación: No debe superar ±10 % de la tensión normal | |
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