IXplore IX85 Spin
Spezifikationen
IX85-Spin | ||
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Laserlinien | 405 nm 50 mW, 445 nm 75 mW, 488 nm 100 mW, 514 nm 40 mW, 561 nm 100 mW, 640 nm 100 mW | |
Laserkombinierer |
Hauptlaser-Strahlkombinierer: 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm + 1 Linie (445 nm oder 514 nm)
Sublaser-Strahlkombinierer: 445 nm, 514 nm 2x Verriegelungsverschlüsse verfügbar | |
Laserlichtsteuerung | Direkte Modulation, ON/OFF-Steuerung und Helligkeitsmodulation mit einzelnen Laserlinien | |
Scanner | Yokogawa CSU-W1 | Einzelne 50-μm-Lochblendenscheibe, Modell mit 1 oder 2 Kameras |
Erfassungsgeschwindigkeit (max.) | 5 ms/f | |
Optischer Zoom | 1x | |
Feldzahl | 22 | |
Dichromatischer Spiegel | 3 Positionen (motorgesteuerter Schieber) | |
Filterrad (Emission) | 10 Positionen (motorgesteuertes Rad) | |
Bildgebungssensor | sCMOS-Kameras von Drittanbietern | |
Mikroskop | IX85P1ZF | |
Bildgebungssoftware | cellSens Dimension; Mehrdimensionale Erfassung und Analyse | |
Betriebsumgebung |
• Verwendung in Innenräumen
• Umgebungstemperatur: 5 ºC bis 40 ºC • Maximale relative Luftfeuchtigkeit: 80 % bei Temperaturen bis 31 ºC, linear abnehmend, bei 34 ºC 70 %, bei 37 ºC 60 %, bei 40 ºC bis 50 % relative Luftfeuchtigkeit • Schwankungen der Versorgungsspannung: Maximal ±10 % der normalen Spannung |
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